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新品發(fā)布高溫冷熱臺
新品發(fā)布高溫冷熱臺 發(fā)布時間:2025-12-03
為滿足材料研究、電子元器件測試、陶瓷燒結及高溫物性分析等領域,北京華測試驗儀器有限公司推出新一代溫控測試平臺。該平臺集溫控性能、靈活配置能力與兼容性于一體,專為科研機構、高校實驗室及制造企業(yè)打造,助力用戶在不同溫度環(huán)境下實現(xiàn)電學參數(shù)測量。一、技術參數(shù)溫域覆蓋:支持從室溫(RT)至...
  • 2021

    12-28
    電弱點測試儀符合標準介紹
    電弱點測試儀試驗電壓是0-20kV交直流電壓,其波動為±1%。電弱點測試儀在試樣弱點擊穿后約0.1s內(nèi)使電壓回升到原來設定的電壓。銅輥為下電極,導電橡膠為上電極。薄膜以3m/min的速度移動。遇弱點時擊穿,擊穿點自動累積計數(shù)。膜移動以平方數(shù)自動計數(shù)。電弱點測試儀是根...
  • 2021

    12-22
    電弱點測試儀的試驗電壓是多少?
    電弱點測試儀是根據(jù)GB/T13542-92、IEC60674-2:1988電氣用塑料薄膜標準要求設計的高壓試驗裝置。主要用于電氣用聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等絕緣材料早給定直流電壓下每平方的擊穿點數(shù)。本機采用計算機控制,可對實驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、采集、處理,并可存取...
  • 2021

    11-24
    高溫四探針測試儀提高了薄膜電阻和體電阻率測量精度
    高溫四探針測試儀可以實現(xiàn)高溫、真空及惰性氣氛條件下測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率和外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其他導電薄膜的方塊電阻。高溫四探針測試儀是測量電阻率的一種方法,測量電阻率的方法很多,如三探針法、電容-電壓法、擴展電阻法等,四探...
  • 2021

    11-8
    熱釋電系數(shù)測試儀的應用
    熱釋電系數(shù)測試儀是利用紅外線來進行數(shù)據(jù)處理的一種儀器。主要是由一種高熱電系數(shù)的材料,如鋯鈦酸鉛系陶瓷、鉭酸鋰、硫酸三甘鈦等制成探測元件。人體都有恒定的體溫,一般在37度,所以會發(fā)出特定波長10UM左右的紅外線,被動式紅外探頭就是靠探測人體發(fā)射的10UM左右的紅外線而進行工作的。人...
  • 2021

    10-22
    高溫絕緣電阻測試儀的使用和注意事項
    高溫絕緣電阻測試儀采用開發(fā)電子保護系統(tǒng),提高了設備的性;選用熱電偶保定溫度的采集有效值、高溫絕緣電阻測試儀采用的SPWM電子升壓技術,電壓輸出穩(wěn)定性好。配備電壓、電流傳感器以保證試驗數(shù)據(jù)的有效性。高溫絕緣電阻測試儀使用注意事項:1、絕緣電阻表的發(fā)電機電壓等級應與被測物的耐壓水平相...
  • 2021

    9-23
    電弱點測試儀安不?
    電弱點測試儀通過人機對話方式可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、采集、處理,并可存取、顯示、打印。電弱點測試儀是根據(jù)IEC60674-2:2009電氣用塑料薄膜第2部分:試驗方法及其第1次修正(2001)和GB/T13542-92《電氣用塑料薄膜試驗方法》而設計的高壓試驗裝置。主要...
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