
簡要描述:介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀高壓設(shè)備可靠性評估以及新型絕緣材料研發(fā)中,對絕緣介質(zhì)電氣性能的測量是至關(guān)重要的基礎(chǔ)環(huán)節(jié)。介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)作為評估絕緣材料性能的兩個參數(shù),直接反映了材料的極化能力與損耗特性,是判斷設(shè)備絕緣狀態(tài)、診斷潛在故障的關(guān)鍵依據(jù)。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
一、介紹
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀在電力系統(tǒng)安全運行、高壓設(shè)備可靠性評估以及新型絕緣材料研發(fā)中,對絕緣介質(zhì)電氣性能的測量是至關(guān)重要的基礎(chǔ)環(huán)節(jié)。介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗因數(shù)(tanδ)作為評估絕緣材料性能的兩個參數(shù),直接反映了材料的極化能力與能量損耗特性,是判斷設(shè)備絕緣狀態(tài)、診斷潛在故障的關(guān)鍵依據(jù)。
二、系統(tǒng)原理
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀的測量原理基于電介質(zhì)介電響應(yīng)理論,并結(jié)合了現(xiàn)代鎖相放大器原理,這一架構(gòu)使其能夠分離被測阻抗的實部與虛部,計算出電容、電感、電阻以及由此衍生的介電常數(shù)與損耗因數(shù)。
寬頻測量能力:系統(tǒng)工作頻率覆蓋1mHz 至 1kHz。低頻段(尤其是1mHz-1Hz)的介電譜(Dielectric Spectroscopy)對于研究絕緣材料的老化、弛豫過程和水分含量;而工頻(50/60Hz)及附近頻點的測量則是高壓設(shè)備現(xiàn)場預(yù)防性試驗的基準。
快速測試模式:針對低頻測量耗時長的痛點,系統(tǒng)提供了優(yōu)化算法,在保證精度的前提下縮短了測試時間,提升了實驗室效率和現(xiàn)場停電檢修窗口的利用率。
多負載適應(yīng)性:不僅能夠測量容性負載(如電纜、電容器),還能分析感性負載(如電抗器、互感器),體現(xiàn)了其強大的復(fù)阻抗分析能力。
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