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功能材料測(cè)試儀器

壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀

更新時(shí)間：2024-12-08

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華測(cè)MLCC高溫/低溫介電溫譜頻譜試驗(yàn)儀，為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。主要應(yīng)用于應(yīng)用領(lǐng)域：復(fù)合絕緣擦亮、高分子絕緣材料、無(wú)機(jī)絕緣材料、有機(jī)絕緣材料、其它絕緣材料等。
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HPZT-200華測(cè)儀器靜態(tài)壓電系數(shù)D33

更新時(shí)間：2025-09-18

型號(hào)：HPZT-200

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華測(cè)儀器靜態(tài)壓電系數(shù)D33可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù),是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。
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壓電陶瓷壓電系數(shù)測(cè)試儀測(cè)D31,D33

更新時(shí)間：2025-09-15

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壓電陶瓷壓電系數(shù)測(cè)試儀測(cè)D31,D33，除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外，還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過(guò)極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。
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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試

更新時(shí)間：2025-09-15

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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/電路板測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。
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HCYD-800壓電材料壓電陶瓷靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2025-09-10

型號(hào)：HCYD-800

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壓電材料壓電陶瓷靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀，可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù)，它是一款功能壓電材料測(cè)試裝置。壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀居里溫度縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33
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HC6630頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)

更新時(shí)間：2025-07-29

型號(hào)：HC6630

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頻譜/阻抗分析儀 /介電常數(shù)可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支援7種不同的參數(shù)模型(三元件、四元件)，可協(xié)助客戶模擬元件的等效參數(shù)值。
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TF Analyzer 3000功能材料電學(xué)測(cè)試鐵電壓電分析儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：TF Analyzer 3000

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功能材料電學(xué)測(cè)試鐵電壓電分析儀，是一款擴(kuò)展性較高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
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華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-06-04

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華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。
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