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功能材料測(cè)試儀器

壓電材料電場(chǎng)應(yīng)變特性的測(cè)試儀激光測(cè)振儀傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀高溫介電溫譜測(cè)試儀熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀高壓極化裝置高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀醫(yī)用接地電阻

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TF Analyzer 2000E國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：TF Analyzer 2000E

瀏覽量：5887

TF ANALYZER 2000E鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器是一款擴(kuò)展性高的速型模塊化鐵電壓電分析儀，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。國(guó)產(chǎn)鐵電壓電分析儀/測(cè)試儀器
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TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀

更新時(shí)間：2024-06-04

型號(hào)：TF Analyzer 1000

瀏覽量：2726

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。
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高溫退火爐測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2023-08-11

型號(hào)：

瀏覽量：4012

高溫退火爐測(cè)試儀器加熱大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無(wú)法實(shí)現(xiàn)溫度的測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測(cè)儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。
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HPZT-200壓電系數(shù)測(cè)試儀器

更新時(shí)間：2025-01-14

型號(hào)：HPZT-200

瀏覽量：2975

壓電系數(shù)測(cè)試儀器除了具有一般介質(zhì)材料所具有的介電性和彈性外，還具有壓電。壓電陶瓷經(jīng)過極化處理之后，就具有了各向異性，每項(xiàng)參數(shù)在不同方向上所表現(xiàn)的數(shù)值不同，這就使得壓電陶瓷的參數(shù)比一般各向同性的介質(zhì)陶瓷多得多。壓電陶瓷的眾多的參數(shù)是它被廣泛應(yīng)用的重要基礎(chǔ)。
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高壓熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-12-08

型號(hào)：

瀏覽量：2544

高壓熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)，是被廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料的一些關(guān)鍵因素，諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等。
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AMR-UD導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)

更新時(shí)間：2024-07-23

型號(hào)：AMR-UD

瀏覽量：3645

導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng) 可靠性電路測(cè)試系統(tǒng)在低溫、高溫的溫度循環(huán)環(huán)境下，采用4端子測(cè)試法對(duì)焊點(diǎn)、連接器接點(diǎn)等導(dǎo)體進(jìn)行多通道微小電阻連續(xù)測(cè)量，以評(píng)估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實(shí)時(shí)自動(dòng)測(cè)量記錄數(shù)據(jù)，圖表化微小電阻變化及試驗(yàn)箱溫度變化，可通過LAN進(jìn)行數(shù)據(jù)處理
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絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試

更新時(shí)間：2025-09-15

型號(hào)：

瀏覽量：4985

面對(duì)電子產(chǎn)品越來越小型輕量及絕緣電阻劣化離子遷移評(píng)估系統(tǒng)/PCB測(cè)試配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可連續(xù)監(jiān)測(cè)，簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。
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介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具

更新時(shí)間：2024-12-08

型號(hào)：

瀏覽量：3911

介電溫譜試驗(yàn)儀可測(cè)薄膜陶瓷等定制專業(yè)夾具，主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可測(cè)試材料的介電常數(shù)，介質(zhì)損耗，阻抗譜Co-Co圖，機(jī)電耦合系數(shù)等，同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度，頻率，時(shí)間變化的曲線，測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。
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