高溫四探針測試儀廣泛用于碳系導電材料、 金屬系導電材料、 金屬氧化物系導電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導電材料、復合導電材料等材料的電阻率測量。 主要有生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù)。

  

高溫四探針測試儀功能特點：

1、采用雙電測組合測量模式，不用進行系數(shù)修正；

2、可以測量高溫、真空、氣氛條件下薄膜方塊電阻和薄層電阻率；

3、可以分析方塊電阻和電阻率隨溫度變化的曲線；

4、可以自動調(diào)節(jié)施加在樣品的測試電壓，以防樣品擊穿；

5、可以與美國keithley2400數(shù)字源表配套測量半導體材料；

6、可以通過USB傳輸數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)格式是Excel格式。